《SEMICON Taiwan 2024》中華精測發表PCIe 6.0測試介面解決方案

中華精測 (6510) 「CHPT by AI」計劃於 2024 台北國際半導體展 (SEMICON Taiwan) 發表AI 應用探針卡，今 (5) 日受主辦單位之邀於先進測試技術論壇「Advanced Testing Forum」以「A 64GT/s High-Speed Probe Card for PCIe Gen6 PAM4 Test」為題簡介全新PCIe 6.0測試介面解決方案，說明本公司運用 AI 工具實現以自製BKS系列探針卡、測試板，全套晶圓測試介面解決方案在廠內精準量測次世代高速傳輸訊號。 

中華精測表示，眾所周知，近二十年來PCI Express 一直是推動資訊高速傳輸演進的關鍵技術。PCIe 6.0 技術規範自兩年前正式發佈以來，因為傳輸編碼以PAM4規格取代NRZ規格，在傳輸表現上較PCIe 5.0 技術規範 (32 GT/s) 效能提高了一倍，同時又具備低延遲等優勢，被視為影響未來資料中心、人工智慧/機器學習、高效能運算 (HPC)、自駕車、物聯網和航太等資料密集型市場發展的關鍵傳輸技術。 

近一年來，AI 伺服器更新迭代發展加速，即便目前PCIe 4.0扮主流、PCIe 5.0正日益普及化，但AI伺服器相關固態硬碟 (SSD) 已經開始率先採用PCIe 6.0。從AI伺服器的機架單元 (rack unit) 盒內結構觀察，除了SSD之外，中央處理器 (CPU) 、AI加速器、智慧網卡(NIC)皆屬於PCIe插槽範圍，一旦先驅者SSD採用，即預告PCIe 6.0將躍升高速傳輸新主流。 

中華精測指出，有鑑於此，AI研發工具率先導入進行PCIe 6.0測試，從挑選合規的MEMS探針卡、可匹配的測試板、到執行整套測試介面的模擬，透過AI高精準度的量測特性，從最終眼圖結果等多項指標報告顯示，中華精測廠內已可精準量測PCIe 6.0高速傳輸訊號，提供BKS探針卡與晶圓測試介面解決方案。